三维高分辨工业X-CT系统

王贤刚; 田杰谟; 郭志平; 辉彭亚; 张朝宗

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三维高分辨工业X-CT系统

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介绍了采用高分辨CCD面阵列探测器的微焦点三维CT系统的基本结构,应用基于Feldkamp的近似三维重建算法获得了令人满意的图像质量.与以往用线阵列探测器的CT系统比较,该系统具有采集数据快,成像速度快,检测周期短的特点,可实现对被检测陶瓷样品100%的检测.给出了使用该系统检测陶瓷轴承球的DR(数字照相)及CT图像.

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来源
《高技术通讯》 |2002年第8期|64-67|共4页
作者
王贤刚; 田杰谟; 郭志平; 辉彭亚; 张朝宗;
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作者单位

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

清华大学核能技术设计研究院,北京,100084;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类粒子探测技术、辐射探测技术与核仪器仪表;
关键词
CT; 三维; 微焦点; 陶瓷;

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