分析FLASH芯片寿命试验设计及测试方法

摘要

现阶段的科技发展速度不断加快,为了在日后的工作成绩上更好的提升,必须加强芯片的深入研究.从目前所掌握的情况来看,FLASH芯片寿命试验得到了业界内的高度关注,该方面的设计和测试,必须保持体系的不断健全,而且在具体的内容上,应适当的丰富,这样才能促使FLASH芯片寿命试验的成绩,能够更好的提升,在结果的准确度方面也可以更好的改善,从而针对相关问题妥善的解决.文章针对FLASH芯片寿命试验设计及测试方法展开讨论,并提出合理化建议.