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消光法粒度测量中折射率反演问题研究

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多波长消光法粒度测量中,在已知粒度分布前提下,采用遗传算法可以对折射率进行反演.相比于传统的优化方法,该算法获得的折射率结果逼近全局最优解.反演采用的波长数目和颗粒单分散性的优劣影响解的可靠性.

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来源
《中国粉体技术》 |2005年第z1期|119-121|共3页
作者
徐峰; 蔡小舒; 苏明旭; 任宽芳;
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作者单位

上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所,上海,200093;

法国应用科学研究院燃气涡轮研究所CORIA,鲁昂,76801;

上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所,上海,200093;

上海理工大学颗粒与两相流测量技术研究所,上海,200093;

法国应用科学研究院燃气涡轮研究所CORIA,鲁昂,76801;

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原文格式 PDF
正文语种 chi
中图分类物理学;
关键词
颗粒测量; Mie散射; 反演;

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