NaI（Tl）航测谱仪对137Cs模拟面源的刻度

摘要

根据数值积分原理,用有限个 Cs 点源模拟了两个有限大(半 137径为 15 m)和一个无限大 Cs 均匀面源,对一台安装在运五飞机 137内的 NaI(Tl)航测谱仪进行了地面刻度。对两个有限大 Cs 模拟均 137匀面源,NaI(Tl)航测谱仪的刻度因子平均值为 2.98×10- m2 ;2对无限大 Cs 均匀面源,其值为 3.77×10- m2,估计其不确定度 137 2小于 20%。用角响应函数方法,计算了实验条件下的刻度因子,结果与实验值在 10%范围内符合。