NaI（Tl）晶体对体源全能峰效率刻度的点源模拟法

摘要

本文介绍了用眯源模拟法来刻度体源峰效率的方法，并利用＾１３７Ｃｓ和＾６０Ｃｏ两种源，分别对φ５１ｍｍ×５１ｍｍ和φ７６ｍｍ×７６ｍｍ的ＮａＩ（Ｔｌ）探测器和Ｍ－Ｂ型体源作了效率的刻度，刻度结果的相对误差不超过６．５％。