首页> 中国专利> 一种圆柱体探测器对点源的源峰探测效率获取方法

一种圆柱体探测器对点源的源峰探测效率获取方法

摘要

本发明公开了一种圆柱体探测器对点源的源峰探测效率获取方法,其特征在于,利用窄束γ射线在物质中的指数衰减规律及γ场叠加原理构建任意尺寸圆柱体探测器源峰探测效率的解析方程式。依据圆柱体探测器外所有屏蔽体用真空替代后11个指定位置点源的源峰探测效率MC软件模拟值与上述解析方程式的计算值间的加权偏差平方和最小的原则,获取指定能量γ射线在圆柱体探测器内的全能峰线衰减系数。该方法避免了以往数值计算方法中需要点源的本征效率参数阵列、MC软件模拟耗时长的缺点,仅需依据探测模型参数即可快速获得圆柱体探测器对任意位置点源的源峰探测效率值。

著录项

  • 公开/公告号CN108287357B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 东华理工大学;

    申请/专利号CN201810034602.7

  • 申请日2018-01-15

  • 分类号G01T1/16(20060101);

  • 代理机构36115 南昌新天下专利商标代理有限公司;

  • 代理人郭显文

  • 地址 344000 江西省抚州市学府路56号

  • 入库时间 2022-08-23 11:26:30

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号