脑瘫患儿头颅MR与病因、智能发育相关性研究

摘要

目的:研究脑瘫患儿头颅磁共振(MR)与病因、智能发育的相关性.方法:选取本院收治的脑瘫患儿111例,均进行MR检查,分析MR与病因、智能发育的相关性.结果:脑瘫患儿头颅MR结果,脑室周围白质软化中早产、低体质量者最多,先天脑畸形中难产、缺氧缺血性脑病(HIE)者最多,脑萎缩中难产、HIE者最多,脑软化中难产、HIE者最多,正常中难产、HIE者最多,差异均有统计学意义(P<0.05).脑室周围白质软化中发育商(DQ)中度者最多,先天脑畸形中DQ极重度者最多,脑萎缩中DQ中度者最多,脑软化中DQ轻度者最多,正常中DQ可疑者最多,差异有统计学意义(P<0.05).结论:MR检查结果显示,先天畸形、早产、窒息、难产以及低体质量是最为常见的脑瘫病因,智能发育的相关.