矩阵剂量仪半导体探测器性能测试技术研究

摘要

针对加速器不适宜在实验室使用且发出的射线会伤害人体等问题,为方便考察仪器性能,采用标准光源模拟加速器照射的方法,对矩阵剂量仪半导体探测器进行性能测试.经过刻度之后,矩阵剂量仪能够完成在加速器照射下的实际测量.实验结果表明:采用标准光源模拟加速器照射矩阵剂量仪,对半导体探测器进行性能测试的技术是可行的.