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为不断降低测试成本而创新——访科利登公司中国区总经理陈绪先生

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在IC China2006即将召开之际，记者访问了科利登（Credence）公司中国区总经理陈绪先生。

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来源
《中国集成电路》 |2006年第9期|26-27|共2页
作者
胡芃;
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作者单位

《中国集成电路》记者;

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正文语种 chi
中图分类电子工业;
关键词
科利登公司; 总经理; 测试成本; 中国; 创新;

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