首页> 中文期刊> 《中国集成电路》 >第三方集成电路IP质量评测过程与案例分析

第三方集成电路IP质量评测过程与案例分析

         

摘要

本文提出了一种基于第三方的集成电路IP质量评测过程,基于第三方过程的IP评测案例分析表明,该过程能够有效地提高集成电路IP项目的可交付项质量。同时本论文使用该评测过程的应用案例,对进一步的集成电路IP质量发展提出了若干建议。%This paper proposes a new semiconductor IP quality appraisal method based on the third party. Case studies demonstrate the third party quality appraisal process for semiconductor IP can improve the IP quality of projects with limited cost. The quality appraisal results also show the states of current IP quality have an improved space. Some suggestions about improving IP quality in IP project have been proposed as conclusion.

著录项

  • 来源
    《中国集成电路》 |2011年第9期|82-87|共6页
  • 作者单位

    工业扣信息化部软件与集成电路促进中心;

    工业扣信息化部软件与集成电路促进中心;

    工业扣信息化部软件与集成电路促进中心;

    工业扣信息化部软件与集成电路促进中心;

    工业扣信息化部软件与集成电路促进中心;

    工业扣信息化部软件与集成电路促进中心;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 设计;
  • 关键词

    集成电路IP; IP质量模型; 评测;

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号