首页> 中文期刊>中国检验检测 >微位移测量和控制用的光电传感器

微位移测量和控制用的光电传感器

     

摘要

<正> 1.前言制造工业现代化已达到需要百分之百的质量控制阶段。机械加工中要求在不降低高生产速度下考虑内在的质量因素以保持生产成本的降低。传统的接触式传感器由于固有的局限性已无法适应今日自动化的需要。对此,非接触

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号