X荧光熔片法在混和铜精矿多元素快速分析中的应用

摘要

cqvip:提出采用X荧光熔片法处理混和矿样品,并以一批混和矿样品为标样建立混和矿多元素分析曲线,通过对该工作曲线进行分析测定,取得了较满意的效果,该方法不仅操作简便,而且降低了分析成本,值得广泛推广。