X射线荧光分析

摘要： 目的考察醋制工艺对孜然中化学成分的影响并进行整体特征分析,为其质量控制提供依据。方法采用高效液相色谱法测定各孜然样品中枯茗醛和木犀草素含量,采用傅里叶变换衰减全反射红外光谱法和粉末X射线衍射法对各孜然样品进行整体特征分析,采用X射线荧光分析法对各孜然样品进行整体元素含量比较。结果枯茗醛和挥发油含量随着炒制温度的升高和时间的延长而降低;木犀草素含量无明显变化;粉末X射线衍射法结果表明,醋制工艺导致孜然的整体化学成分发生了改变;X射线荧光分析法结果表明,醋制工艺可导致孜然中的金属元素含量明显降低。结论该研究建立的枯茗醛含量测定方法和整体特征鉴别方法具有良好的普适性,方法准确性高,可用于规范和控制醋制孜然的药材质量。

摘要： 以X射线荧光光谱分析技术(XRF)为基准,对那阿地区的花岗岩和变质岩样品进行测试分析.以实验室所测得的主量元素结果为标准,将PXRF所测得的粉末状岩石样品数据与其对比.在处理样品中Al2 O3、CaO、Fe2 O3、MgO、SiO2、TiO2这六个主量元素的数据时,发现Spearman方法优于Pearson方法.根据不同时间变量下XRF与PXRF所测样品相关系数值(ρ)来看,90 s是4个时间点(90 s、80 s、70 s、60 s)中最优的时间点;以90 s为基准,对比变质岩与花岗岩的相关数据发现:除CaO、MgO的变质岩ρ值大于其花岗岩ρ值之外,其余主量元素的变质岩的ρ值均小于花岗岩的ρ值,在变质岩中除了SiO2、TiO2不具有明显的正相关与负相关性外,其余主量元素均可以进行半定量甚至是定量测量.在花岗岩中除SiO2具有弱正相关性外,其余主量元素的正相关性均显著,因此在样品为粉末态的前提下PXRF的野外现场测试具有可行性.

摘要： 硬X射线调制望远镜是我国第一颗X射线天文卫星,其载荷低能X射线望远镜采用了SCD型探测器CCD236,主要对能量在0.7～13.0 keV的软X射线光子进行观测.卫星发射前,需要对探测器进行详细的性能标定,其中包括能量响应矩阵的标定.能量响应矩阵是能谱分析的关键.CCD236探测器输出能谱并不是观测光源的真实发射谱,而是发射谱与探测器能量响应矩阵的卷积结果.一般可以通过直接反卷积的方法还原光源的真实能谱.解谱过程可以看作是一维成像问题,利用能量响应矩阵与输出能谱进行反卷积解谱.常用的反卷积算法为Lucy-Richardson迭代算法,其利用条件几率的贝氏定理反复进行运算,进而对输出能谱进行反解,得到观测光源的真实发射能谱.通过能量响应矩阵对CCD236探测器的55 Fe测量能谱进行解谱.经过解谱,能谱的能量分辨从144.3 eV提升到了65.6 eV@5.9 keV,连续谱成分被明显地抑制,提高了能谱的峰背比.反解能谱由两个半峰全宽很小的(<70.0 eV)高斯峰组成,两成分的强度比为8.4,能够很好地表征真实发射谱的结构.利用这种方法可对材料X射线荧光谱进行解谱,还原材料的荧光谱,提高能谱的能量分辨.反解结果中主要元素各类荧光线通过解谱彼此独立,能谱峰背比很高,可以很好地用于X射线荧光分析中,提高荧光谱的质量.

摘要： 针对常规珍珠检测方法需要检测者具有丰富的经验、样品预处理、破坏样品、检测时间长等问题,设计了一种基于X射线透射成像及荧光双模式的珍珠检测系统.该系统首先通过在X射线透射成像系统上加入测厚系统,引入样品厚度进行修正,可以计算X射线在物质中的衰减系数,这就使得对于X射线吸收相同,厚度不同,衰减系数相近的样品也可以分辨出来,提高了成像系统的分辨,通过大量样品的测量建立衰减系数阈值数据库,根据衰减系数与阈值的对比,实现不同仿珍珠之间、珍珠与仿珍珠之间的鉴别;然后利用衰减系数相近的淡水和海水珍珠Ca元素含量远大于Sr元素,且淡水和海水珍珠中Sr含量不同,可以使用Sr和Ca元素含量的比值不同来区分淡水和海水珍珠,因此引入X射线荧光分析系统测量淡水和海水珍珠中Sr和Ca的荧光强度比,通过大量样品测量计算区分淡水和海水珍珠的荧光强度比的阈值,根据测量值和阈值的对比,从而进行淡水和海水珍珠的鉴别.引入测厚系统的X射线透射成像系统和X射线荧光检测系统协同运行,构成了鉴定珍珠的双模式系统.实验结果证明:该双模式系统可以在不破坏样品的前提下对不同仿珍珠之间、珍珠与仿珍珠、淡水与海水珍珠之间进行鉴别.该双模式检测系统在配合分拣系统后可以实现对大量样品的在线检测,带有分拣系统的双模式检测系统在珠宝鉴定、矿石检测、石制地板检测等领域具有潜在应用.

摘要： 水泥基渗透结晶材料具有使混凝土致密、防水的特点,能够改善水泥基材料的耐久性并延长其使用寿命.通过X射线荧光光谱分析和扫描电镜能谱分析,测试水泥基渗透结晶材料在不同深度的元素分布及含量变化,由此判断该材料在水泥基材料中的渗透深度.结果表明,不同渗透结晶材料在水泥基体中形成的结晶物质形态、分布不尽相同,且对基体的力学性能有一定的提高.

摘要： 提出采用X荧光熔片法处理混和矿样品,并以一批混和矿样品为标样建立混和矿多元素分析曲线,通过对该工作曲线进行分析测定,取得了较满意的效果,该方法不仅操作简便,而且降低了分析成本,值得广泛推广.

摘要： 塔东区块是大庆油田重要的油气资源接替区,勘探目的层主要为碳酸盐岩,提高录井现场碳酸盐岩定量识别分析的准确性具有重要意义.为此,开展了X射线荧光分析技术在碳酸盐岩定量分析中的研究工作,研制了X射线荧光分析仪,分析元素种类多、速度快、精度高,满足了录井现场碳酸盐岩定量分析需求.制定了通过元素分析结果进行碳酸盐岩定名的方法,在录井现场应用结果表明,X射线元素分析仪在碳酸盐岩定量分析方面具有明显优势,在重点层位,使用X射线元素分析仪能够提高分析准确性,从而提高岩性剖面符合率.

摘要： 阿舍勒铜锌矿床距离新疆哈巴河县北西向30km.矿化主要集中在下-中泥盆统阿舍勒组,以含石英晶屑凝灰岩和英安岩为主,夹有很多基性火山岩薄层.上泥盆统齐也组仅在局部地段见有铁染或微弱的蚀变现象.矿体受特定岩性的层位控制,赋存于英安质角砾凝灰岩中,表明火山喷发末期成矿.通过详细的地质观察，根据矿体赋存层位，石英脉体的穿插关系以及围岩变形变质特征，阿舍勒铜锌矿床经历了两大成矿期:海相火山喷流沉积期和热液叠加改造期，热液叠加改造期可划分为四个成矿阶段:贫硫化物顺层石英脉阶段、粗晶黄铁矿-白色石英阶段、烟灰色浸染状黄铁矿石英阶段以及晚期白色石英脉阶段。热液叠加期石英脉中包裹体主要类型有:富CO2包裹体，水溶液包裹体及单相碳质包裹体。

摘要： 阿舍勒铜锌矿床距离新疆哈巴河县北西向30km.矿化主要集中在下-中泥盆统阿舍勒组,以含石英晶屑凝灰岩和英安岩为主,夹有很多基性火山岩薄层.上泥盆统齐也组仅在局部地段见有铁染或微弱的蚀变现象.矿体受特定岩性的层位控制,赋存于英安质角砾凝灰岩中,表明火山喷发末期成矿.通过详细的地质观察，根据矿体赋存层位，石英脉体的穿插关系以及围岩变形变质特征，阿舍勒铜锌矿床经历了两大成矿期:海相火山喷流沉积期和热液叠加改造期，热液叠加改造期可划分为四个成矿阶段:贫硫化物顺层石英脉阶段、粗晶黄铁矿-白色石英阶段、烟灰色浸染状黄铁矿石英阶段以及晚期白色石英脉阶段。热液叠加期石英脉中包裹体主要类型有:富CO2包裹体，水溶液包裹体及单相碳质包裹体。

摘要： 阿舍勒铜锌矿床距离新疆哈巴河县北西向30km.矿化主要集中在下-中泥盆统阿舍勒组,以含石英晶屑凝灰岩和英安岩为主,夹有很多基性火山岩薄层.上泥盆统齐也组仅在局部地段见有铁染或微弱的蚀变现象.矿体受特定岩性的层位控制,赋存于英安质角砾凝灰岩中,表明火山喷发末期成矿.通过详细的地质观察，根据矿体赋存层位，石英脉体的穿插关系以及围岩变形变质特征，阿舍勒铜锌矿床经历了两大成矿期:海相火山喷流沉积期和热液叠加改造期，热液叠加改造期可划分为四个成矿阶段:贫硫化物顺层石英脉阶段、粗晶黄铁矿-白色石英阶段、烟灰色浸染状黄铁矿石英阶段以及晚期白色石英脉阶段。热液叠加期石英脉中包裹体主要类型有:富CO2包裹体，水溶液包裹体及单相碳质包裹体。

摘要： 阿舍勒铜锌矿床距离新疆哈巴河县北西向30km.矿化主要集中在下-中泥盆统阿舍勒组,以含石英晶屑凝灰岩和英安岩为主,夹有很多基性火山岩薄层.上泥盆统齐也组仅在局部地段见有铁染或微弱的蚀变现象.矿体受特定岩性的层位控制,赋存于英安质角砾凝灰岩中,表明火山喷发末期成矿.通过详细的地质观察，根据矿体赋存层位，石英脉体的穿插关系以及围岩变形变质特征，阿舍勒铜锌矿床经历了两大成矿期:海相火山喷流沉积期和热液叠加改造期，热液叠加改造期可划分为四个成矿阶段:贫硫化物顺层石英脉阶段、粗晶黄铁矿-白色石英阶段、烟灰色浸染状黄铁矿石英阶段以及晚期白色石英脉阶段。热液叠加期石英脉中包裹体主要类型有:富CO2包裹体，水溶液包裹体及单相碳质包裹体。

摘要： 同步辐射X射线荧光微区分析技术(SRXRF)曾被Roedder(1984)称为具有重要应用前景的单个流体包裹体微量元素测试方法之一.本文运用上海光源BL15U1硬X射线微聚焦及应用光束线站,对脉状热液金矿床含金石英脉的单个流体包裹体进行了微量元素2D扫描Mapping研究,以期对金属成矿元素在单个包裹体中的分布作深入研究,为成矿作用研究提供依据.

摘要： 同步辐射X射线荧光微区分析技术(SRXRF)曾被Roedder(1984)称为具有重要应用前景的单个流体包裹体微量元素测试方法之一.本文运用上海光源BL15U1硬X射线微聚焦及应用光束线站,对脉状热液金矿床含金石英脉的单个流体包裹体进行了微量元素2D扫描Mapping研究,以期对金属成矿元素在单个包裹体中的分布作深入研究,为成矿作用研究提供依据.

摘要： 同步辐射X射线荧光微区分析技术(SRXRF)曾被Roedder(1984)称为具有重要应用前景的单个流体包裹体微量元素测试方法之一.本文运用上海光源BL15U1硬X射线微聚焦及应用光束线站,对脉状热液金矿床含金石英脉的单个流体包裹体进行了微量元素2D扫描Mapping研究,以期对金属成矿元素在单个包裹体中的分布作深入研究,为成矿作用研究提供依据.

摘要： 同步辐射X射线荧光微区分析技术(SRXRF)曾被Roedder(1984)称为具有重要应用前景的单个流体包裹体微量元素测试方法之一.本文运用上海光源BL15U1硬X射线微聚焦及应用光束线站,对脉状热液金矿床含金石英脉的单个流体包裹体进行了微量元素2D扫描Mapping研究,以期对金属成矿元素在单个包裹体中的分布作深入研究,为成矿作用研究提供依据.

摘要： 同步辐射X射线荧光微区分析技术(SRXRF)曾被Roedder(1984)称为具有重要应用前景的单个流体包裹体微量元素测试方法之一.本文运用上海光源BL15U1硬X射线微聚焦及应用光束线站,对脉状热液金矿床含金石英脉的单个流体包裹体进行了微量元素2D扫描Mapping研究,以期对金属成矿元素在单个包裹体中的分布作深入研究,为成矿作用研究提供依据.

摘要： 硫化物成矿因素复杂,受地质作用(热液作用、岩浆作用、沉积作用),故其组成较为复杂其中含铜硫量很高,通常采用化学法和原子吸收光谱法测定其主量元素,但上述方法分析流程长,所需试剂多,不适合快速分析的要求.利用X射线荧光分析(XRF)法测定硫化物矿已有滤纸片法、粉末压片法、熔融法等研究.但是滤纸片法仅限于测定少量元素,很难满足多组分检测;粉末压片法存在着不易克服的颗粒度效应和矿物效应;熔融法克服了颗粒度效应,但硫化物矿中铜等组分存在,使铂金坩埚易受侵蚀,需要认真仔细研究.因此，针对特定类型硫化物铜矿进行了熔融法制样实验研究，确定氧化剂类型和用量、混合熔剂类型和用量、预氧化时间、熔融时间等参数，并采用定量脱模剂进行玻璃熔片的脱模。实验解决了熔融法易侵蚀铂金柑竭的缺点，并在某类型热液型硫化铜矿样品进行了实际应用。拟将进行微区均匀性测定和通过稀释校准样品的实验研究。采用熔融法进行硫化铜矿样品分析检测，样品分析时间较短，将可适用于硫化铜矿样品的快速同时多元素分析。

摘要： 本发明的目的在于提供一种能够高精度地测定含有多种添加剂和金属的被测定液中包含的各种金属浓度的测定方法以及测定装置。一种荧光X射线分析的测定方法，基于荧光X射线强度测定值来测定含有1种以上的添加剂和金属的被测定液中包含的测定对象金属的各种金属浓度，该测定方法包括以下工序：校准曲线多项式决定工序(S11)，决定测定对象金属的校准曲线的多项式近似式；液体种类校正多项式决定工序(S12)，决定用于针对测定对象金属的荧光X射线强度测定值校正因含有添加剂而引起的测定值的误差的多项式近似式；比重校正多项式决定工序(S13)，决定用于针对测定对象金属的荧光X射线强度测定值校正由被测定液的比重的差异引起的测定值的误差的多项式近似式；以及金属浓度测定工序(S14)，使用通过校准曲线多项式决定工序、液体种类校正多项式决定工序以及比重校正多项式决定工序决定的多项式近似式，来测定测定对象金属的各种金属浓度。

摘要： 本发明提供一种X射线荧光分析装置用的试样夹持器，其当利用上照射型的X射线荧光分析装置进行测定时能够对少量且无法滴干的液体状试样进行测定。X射线荧光分析装置用的试样夹持器具有第一基板和第二基板，其中，所述第一基板具有：支持基板，其具有配置液体状试样的孔；第一树脂薄膜，其粘结在该支持基板的X射线入射侧的表面上以覆盖该孔；以及粘结层，其设置在该支持基板的粘结有该第一树脂薄膜的表面的背面，所述第二基板具有：固定基板，其在与所述支持基板所具有的孔的对应位置上具有孔；以及第二树脂薄膜，其粘结在该固定基板的所述X射线入射侧的表面上，并且所述第二基板通过所述粘结层与所述第一基板粘结。

摘要： 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

摘要： 在基于FP法的荧光X射线分析方法中，在用于求出灵敏度常数的标准试样理论强度计算步骤以及反复计算之中的未知试样理论强度计算步骤中使用的预定的理论强度式方面，仅仅对于与X射线的吸收相关的吸收项，按照使得全部成分的浓度比的合计成为1的方式将各成分的浓度比进行标准化。

摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析仪、荧光X射线分析方法及荧光X射线分析程序，能够低成本地对包括多层形式的材料的样品在该样品的深度方向进行分析，而不需要熟练的技术及过多时间。根据本发明的荧光X射线分析方法，用于在包括以多层形式的不同材料的样品中进行材料分析，通过用X射线照射样品来检测荧光X射线从而分析材料；根据分析结果估算对样品的处理量；然后根据在处理量估算步骤中所估算的处理量来对样品进行处理。

摘要： 本发明提供一种荧光X射线分析装置及荧光X射线分析装置的控制方法，即使在荧光X射线分析装置发生异常的情况下，也能够防止样品的劣化、破损、装置内部污染。荧光X射线分析装置具备：测量部，包括在待机位置和测量位置之间移动样品的移动机构、向样品照射1次X射线的X射线源、检测入射的荧光X射线的强度的检测器和控制移动机构及X射线源动作的第一控制部；以及信息处理部，其具有基于检测器测量出的荧光X射线的强度对样品进行分析的分析部、和与第一控制部进行通信并控制测量部的第二控制部，第一控制部具有退让单元，在第一控制部与第二控制部之间的通信被切断时，对移动机构进行退让控制，以使得在测量位置的样品退让至待机位置。

摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位，并且被配置成从传播到所述第一方向上的荧光X射线(207)中分离预定第一波长范围。第一晶体衍射仪被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器(602、1505)。第一晶体衍射仪(601)包括具有衍射表面(801、803、805)的热解石墨晶体(603、802、804)，所述衍射表面是单连通表面。所述第一辐射检测器(602)是固态半导体检测器。

摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料的样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601、1501)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位。其包括第一晶体(603、1502)和第一辐射检测器(602、1505)，该第一辐射检测器被配置成以第一能量分辨率检测由所述第一晶体(603、1502)衍射的荧光X射线。第二晶体衍射仪(1511)相对于所述浆料处理单元(201)沿第二方向定位。其包括第二晶体(1512)和第二辐射检测器(1515)，该第二辐射检测器被配置成以第二能量分辨率检测由所述第二晶体(1512)衍射的荧光X射线。所述第一晶体(603、1502)是热解石墨晶体，所述第二晶体(1512)包括热解石墨以外的材料，并且所述第一晶体衍射仪和所述第二晶体衍射仪被配置成将相同元素的特征荧光辐射导向至其相应的辐射检测器。

摘要： 一种X射线荧光分析仪，其包括用于沿第一光轴(204)的方向发射入射X射线(206)的X射线管(402)。浆料处理单元(201)被配置成维持浆料样品(202)与所述X射线管之间的恒定距离。第一晶体衍射仪(601)相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位，并且被配置成从传播到所述第一方向上的荧光X射线(207)中分离预定第一波长范围。它被配置成将处于所分离的预定第一波长范围内的荧光X射线导向至第一辐射检测器(602、505)。所述X射线管(402)的输入功率额定值为至少400瓦。第一晶体衍射仪(601)包括热解石墨晶体(603)。所述X射线管(402)与所述浆料处理单元(201)之间的光路是直接的，其间没有衍射仪。

摘要： 一种X射线荧光分析仪系统，其包括X射线管(402)、浆料处理单元(201)和晶体衍射仪(601)，该晶体衍射仪相对于所述浆料处理单元(201)沿第一方向定位。晶体衍射仪(601)从传播到所述第一方向上的荧光X射线(207)中分离预定波长范围，并将处于所分离的预定波长范围内的荧光X射线导向至辐射检测器(602、1605)。晶体衍射仪(601)包括热解石墨晶体(603)。所述预定波长范围包括预定的感兴趣元素的特征荧光辐射，预定的感兴趣元素的原子序数Z在41到60之间，包括端值。在所述特征荧光辐射的能量下，所述辐射检测器(602、1605)的能量分辨率优于600eV。