基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计

摘要

针对小批量显卡产品测试中存在资源利用率低、大量专用测试仪管理难的问题,笔者通过对SOPC技术的研究,在通用显卡测试仪上运用SOPC技术,提出了一种基于SOPC技术的通用化测试仪的设计方法,完成了基于SOPC技术的通用显卡测试仪设计方案,并最终根据设计目的给出了相应实例,证实该方法具有一定可行性.通过对该方法的研究,对于提高通用显卡测试仪的性能具有一定意义.