一种由超滤膜测定阴离子表面活性剂临界胶束浓度的新方法

摘要

@@ 表面活性剂临界胶束浓度(cmc)是表征表面活性剂胶体电解质性质的重要理化指标.常用的cmc测定方法有光散射法、染料法、增溶法、电导法和表面张力法等[1].这些方法的共同特点是依据表面活性剂在cmc附近某些理化性质的突变特性,从发生突变的函数不连续区域寻找对应的浓度区域并确定为cmc.