硅酸锂粉体的微波水热法制备及其表征

摘要

以氢氧化锂和硅酸乙酯为原料,采用微波水热法在80～150℃下成功地制备出高纯硅酸锂粉体,并利用场发射扫描电镜(FE-SEM)、X-射线能谱仪(EDS)、X射线多晶粉末衍射仪(XRD)、比表面积(BET)及孔径测试仪对所制备的硅酸锂粉体的微观形貌、元素和物相组成、吸附性能进行了表征研究,结果表明,微波水热法使硅酸锂的结晶温度降低到80c℃,极大地降低了硅酸锂粉体的合成能耗,在80℃下水热反应40min可以得到结晶良好、疏松多孔、具有较大比表面积和微孔结构的纯相硅酸锂粉体,采用谢乐公式计算出其晶粒平均尺寸为70.65nm.