Si3N4陶瓷材料显微结构和烧结机理研究中的TEM观察

摘要

本实验使用避射电镜(TEM)对Si_3N_4陶瓷材料的显微结构(晶粒、晶界、位错)及烧结机理进行了研究。利用明场像、暗场像及晶界相产生的漫散晕轮证明晶界相是以玻璃态形式存在,从而说明是液相烧结,并用实验证明致密化过程是:α—Si_3N_4在液相中溶解——扩散——再沉淀析出β—Si_3N_4的过程。另外还发现了刃位错和菊池线。