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于望; 温景超; 刘开; 何忠名; 胡涵; 赵彦飞;
中国运载火箭技术研究院 北京100076;
电子元器件; 超期复验; 质量等级; 超期失效;
机译:日本可靠性可靠性社会2016年可靠性论坛报告“不要重复产品事故” - 模糊的电子元器件和电子设备的质量风险
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机译:贝叶斯可靠性概念在巡航导弹电子元器件中的应用。
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机译:电子元器件测试设备,电子元器件测试方法及电子元器件测试系统
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