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锗硅选择性外延在应变技术中的应用

         

摘要

多年以来,沿着摩尔定律的途径,人们一直采用对金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)进行等比例微缩来增加器件速度的方法。然而在晶体管尺寸达到65nm以后,常规的微缩方法遇到了以短沟道效应为核心的一系列问题。当器件进一步微缩,随着电流密度的增大,迁移率的提升成为保持晶体管性能的关键.因为电源电压被等比例缩小以降低芯片的动态功耗。

著录项

  • 来源
    《集成电路应用》 |2008年第8期|47-48|共2页
  • 作者

    王宸煜;

  • 作者单位

    应用材料(中国)公司;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
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