O5＋离子入射在金属表面形成L壳层X射线产生截面的研究

摘要

迄今为止，K壳层电离的研究已取得了长足的进展。人们已对各不同入射离子轰击各种靶元素，在很大的能区范围内测量了K壳层X射线产生截面，而L壳层的实验数据则不够完善。本实验测量了20-45MeV的O5＋离子轰击金属元素Au，Nb，Cd，Fe和Ta靶所引起的L亚壳层X射线产生截面。