一种XILINX7系列FPGA的抗单粒子翻转加固技术

王冠雄; 王佳; 孙逸帆; 滕树鹏; 鲍迪

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一种XILINX7系列FPGA的抗单粒子翻转加固技术

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为解决XILINX公司7系列FPGA受SEU(单粒子翻转)的影响,采用一种基于软件错误缓解IP核(SEM IP)的新型回读刷新技术,使用SEM IP的故障注入方法并进行故障注入实验及单粒子实验.实验证明,该技术可在FPGA配置位流数据结构未知的情况下,以帧为单位对XILINX 7系列FPGA的配置位流进行比对及纠错,从而实现抗SEU加固.

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来源
《航天标准化》|2020年第2期|40-44|共5页
作者
王冠雄; 王佳; 孙逸帆; 滕树鹏; 鲍迪;
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作者单位

上海航天电子技术研究所/八院智能计算技术重点实验室上海 201109;

上海航天技术研究院上海 201109;

上海航天电子技术研究所/八院智能计算技术重点实验室上海 201109;

上海航天电子技术研究所/八院智能计算技术重点实验室上海 201109;

上海航天电子技术研究所/八院智能计算技术重点实验室上海 201109;

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正文语种 chi
中图分类
关键词
SEU(单粒子翻转); SRAM型FPGA; 抗辐加固; 回读刷新;

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