用X射线光电子谱（XPS）法研究粘接配位健机理

摘要

本文用X射线光电子谱(XPS)法对环氧胶和被粘物(钢和氧化铝)粘接界面各元素的化学状态进行了研究。结果表明:界面处元素N、O、Fe、Al发生了化学位移,从而证实了粘接界面配位键的存在。