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同步辐射纳米CT图像配准方法研究

         

摘要

基于同步辐射的X射线纳米成像技术是无损研究物质内部纳米尺度结构的强大工具,本文总结了图像配准技术在纳米CT成像领域的研究和应用,并根据发展阶段进行分类分析.首先,通过统计近年以来图像配准文献的发表情况,分析并预测纳米尺度图像配准的未来研究方向.其次,基于图像经典配准算法理论,详细介绍了图像配准算法在纳米成像领域最有效的前沿应用.最后,介绍了基于深度学习的图像配准方法的前沿研究,并讨论深度学习在纳米分辨图像配准领域的适用性及发展潜能,根据纳米尺度图像数据的特点及各种深度学习网络模型的特性,展望了同步辐射纳米尺度图像配准技术的未来研究方向及挑战.

著录项

  • 来源
    《物理学报》 |2021年第16期|47-61|共15页
  • 作者单位

    中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800;

    中国科学院大学 北京 100049;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800;

    中国科学院大学 北京 100049;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海应用物理研究所 上海 201800;

    中国科学院大学 北京 100049;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

    中国科学院上海高等研究院上海光源中心 上海 201204;

  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类
  • 关键词

    图像配准; 图像对齐; 纳米成像; 深度学习;

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