等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电的热效应研究

王立世; 潘春旭; 蔡启舟; 魏伯康

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等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电的热效应研究

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详细回顾了有关等离子体电解氧化过程中单个稳态微放电热效应研究的现状;提出了处理过程中电解液/基体界面上离散气泡类型和数量上的变化造成了微放电外观的演化.基于微放电的圆柱形通道模型,并借鉴点热源的传热公式,估算了发生在通道内部及放电衰退过程中毗邻膜层的温度场,为膜层中存在的物相种类(MgAl2O4,Mg2SiO4等)及晶态类型提供了初步的理论分析.

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来源
《物理学报》|2007年第9期|5341-5346|共6页
作者
王立世; 潘春旭; 蔡启舟; 魏伯康;
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作者单位

武汉大学物理科学与技术学院,武汉,430072;

武汉大学物理科学与技术学院,武汉,430072;

华中科技大学材料科学与工程学院,武汉,430074;

华中科技大学材料科学与工程学院,武汉,430074;

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正文语种 chi
中图分类等离子体物理学;
关键词
等离子体电解氧化; 镁合金; 微放电; 热效应;

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