长期相关过程的自相关对排队性能的影响

摘要

近年来，长期相关（LRD）性对ATM网的建模和控制的影响还存在分歧．本文研究了LRD过程的二阶统计特性对排队的影响，认为它受缓存大小及利用率的控制通过仿真给出了结论，并从理论上进行论证．最后，针对建模提出了建议．