波导壁上缝隙天线导纳测量

摘要

本文提出了一种测量波导窄壁上单缝天线导纳的新方法——归一化S参数法,这种方法可消除波导段引入的损耗及附加相移,不仅可精确测出单缝的电导值,而且还可测出电纳值。S波段缝隙天线导纳的测量结果与理论值吻合,证明了该方法的正确性。最后分析了主要误差源及减小测试误差的措施。