温度诱导的下丘脑神经元Kv簇状开放的特性

摘要

采用膜片钳细胞贴附式技术,观察和记录了32℃、37℃和39℃时下丘脑神经元电压依赖性K+单离子通道(Kv)的活动,探讨Kv簇状开放(Burst opening)与开放概率的关系.结果表明,温度升高时,单位时间内记录到的Burst开放明显增多,开放概率NPo从37℃时的0.175±0.124升至39℃时的0.696±0.187(P<0.01).明显影响NPo的Burst开放有关参数包括Burst内部的开放数目和两个Burst开放的间期.温度升高,Burst开放内部开放数目增多,两个Burst开放间期明显缩短,39℃时出现较多的近Burst开放.