University of California, San Diego.;
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机译:光学器件的可靠性和劣化机理-结晶度/界面的控制和器件可靠性
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机译:超越存储接口:在存储设备中查找和利用未成文合同
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机译:堆叠电介质接口在粘结约束引起的过渡区域的装置性能和可靠性的内在限制
机译:导弹装备计划的存储可靠性。存储可靠性摘要报告。第四卷。军械装置。