Structural Characterization Studies on Semiconducting ZnSnN 2 Films using Synchrotron X-ray Diffraction

著录项

• 作者

  Senabulya, Nancy.;

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• 作者单位

  University of Michigan.;

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• 授予单位 University of Michigan.;
• 学科
• 学位 Ph.D.
• 年度 2017
• 页码 120 p.
• 总页数 120
• 原文格式 PDF
• 正文语种 eng
• 中图分类
• 关键词

  Crystal structure; Disorder-order phase transition; Reciprocal space maps; Single crystal; Synchrotron x-ray diffraction; Znsnn2;

  机译：晶体结构;无序阶段转换;互惠空间图;单晶;同步X射线衍射;znsnn2.;