Carnegie Mellon University;
Copper films; Grain boundary scattering; Intra-grain boundaries; Orientation imaging; Surfaceboundary scattering; Twin boundaries;
机译:纳米铜膜的表面和晶界散射
机译:斜面多晶铜薄膜中的表面和晶界散射研究
机译:晶界散射在纳米铜膜电阻率中的主导作用
机译:地表边界散射对纳米Cu膜电阻率的定量分析
机译:铋晶界杂质偏析对镍向铜对称扭曲晶界扩散的影响。
机译:316L不锈钢晶界工程后晶界网络的评价及抗晶间开裂性的提高。
机译:纳米Cu薄膜中的表面和晶界散射:定量分析,包括双界限