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Surface and grain boundary scattering in nanometric Cu thin films: A quantitative analysis including twin boundaries

机译：纳米Cu薄膜中的表面和晶界散射：定量分析，包括双界限

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Katayun Barmak; Amith Darbal; Kameswaran J. Ganesh; Paulo J. Ferreira; Jeffrey M. Rickman; Tik Sun; Bo Yao; Andrew P. Warren; Kevin R. Coffey;
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年度 2014
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