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机译:分析并改善时序电路的可测试性
Parikh, Prashant Shashikant;
Illinois Institute of Technology;
机译:改善时序电路的路径延迟可测试性
机译:改进非扫描时序电路随机测试生成可能性的研究
机译:利用不变逻辑提高时序电路的可测试性和可靠性
机译:基于可满足性的顺序测试生成和混合寄存器传输/门级电路可测试性的设计。
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机译:利用隐式计算改进了用于顺序电路的测试模式生成
机译:顺序电路紧凑测试的效率。
机译:分析逻辑电路测试点的方法,分析逻辑电路测试点的设备以及具有测试点的半导体集成电路
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