Wayne State University.;
机译:淬火的铅和锡薄膜的临界场的角依赖性
机译:在t≤4.2°K时Nb3Sn的临界电流的场强,角度和缺陷依赖性
机译:交叉柱状缺陷的YBCO薄膜的临界电流密度与角度的关系
机译:CA掺杂YBCO外延薄膜中临界电流密度的角度依赖性
机译:含铅和无铅焊料合金在电子包装中的金,钯,镍箔,引线框架和凸块下的薄膜金属上的润湿行为和界面反应。
机译:荧光荧光荧光荧光荧光从乳腺菌SB1003的增强及其对浓度温度和静态磁场的关键依赖性
机译:淬火薄PB,Sn和薄膜临界领域的行为:其角度依赖性及其与缺陷浓度变化的关系,结晶与平均自由路径
机译:应用磁场中脉冲激光沉积YBa2Cu3O7-x + BasnO3薄膜中传输临界电流密度的增强和角度依赖性(后印刷)。