Hong Kong University of Science and Technology (People's Republic of China).;
机译:薄膜断裂韧性的基体拉伸试验中的微桥方法
机译:氮化镓薄膜的微桥测试
机译:双层薄膜的微桥测试
机译:基于纳米取向的微桥测试方法用于MEMS应用中薄膜的机械表征
机译:机械应力对光学多层介电薄膜多腔Fabry-Perot干涉膜的影响。
机译:校正:G. Papari等。非晶WSe2和MoSe2薄膜的太赫兹光谱。材料2018111613
机译:薄膜强度的测试方法。