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摘要
第一章 绪论
1.1 引言
1.2 纳米光刻技术
1.2.1 纳米压印光刻
1.2.2 沾水笔光刻
1.2.3 菲涅尔波带片阵列无掩膜光刻
1.3 纳米光刻技术中的平行度检测与调整
1.3.1 自适应式平行度调整
1.3.2 光学干涉空间相位成像平行度检测
1.3.3 电容传感器平行度检测
1.3.4 悬臂梁式传感器平行度检测
1.4 本文的主要内容
第二章 压电悬臂梁平行度检测系统设计
2.1 引言
2.2 压电悬臂梁平行度检测原理与精度分析
2.2.1 压电悬臂梁平行度检测原理
2.2.2 压电悬臂梁平行度检测精度分析
2.3 压电悬臂梁平行度检测系统设计
2.3.1 光学干涉平行度调整装置的设计
2.3.2 光学平晶表面金属电极的设计
2.4 本章小结
第三章 低噪声微弱压电电荷信号检测电路的设计与仿真
3.1 压电电荷检测技术
3.2 冷放电电荷放大器
3.2.1 冷放电电荷放大器原理
3.2.2 冷放电电荷放大器的设计与Pspice仿真分析
3.3 正向偏置节型场效应管电荷放大器
3.3.1 正向偏置节型场效应管电荷放大器原理
3.3.2 正向偏置节型场效应管电荷放大器的设计与Pspice仿真分析
3.3.3 分立元件电荷放大器的电源设计
3.4 本章小结
第四章 压电悬臂梁高分辨率位移检测实验与分析
4.1 压电悬臂梁高分辨率位移检测实验装置
4.2 压电悬臂梁高分辨率位移检测
4.2.1 PI台位移响应曲线测试
4.2.2 压电双晶片高分辨率位移检测结果与分析
4.2.3 压电微悬臂梁高分辨率位移检测结果与分析
4.3 压电悬臂梁平行度检测的初步尝试
4.4 本章小结
第五章 总结与展望
5.1 主要工作总结
5.2 创新之处
5.3 展望
参考文献
在读硕士期间发表的论文与取得的研究成果
致谢