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宋金彩;
吉林大学;
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机译:通过工艺光谱检查从集成电路血管放电中从集成电路基板去除的光致抗蚀剂涂层的诊断
机译:模拟集成电路故障诊断的响应面方法和单纯形优化
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机译:化学集成电路:互补金属氧化物半导体集成电路上的化学系统
机译:嵌入式知识产权模块集成电路的路径延迟故障测试
机译:微处理器控制数据网络中的故障测试与诊断实现
机译:集成电路故障测试仪,集成电路故障测试方法及记录有故障测试控制程序的记录介质
机译:集成电路的时序故障补救装置,集成电路的时序故障诊断装置,集成电路的时序故障诊断方法,集成电路,其上记录的集成电路的时序故障诊断程序和计算机可读记录的计算机可读记录介质记录在其上的介质,用于集成电路的定时故障补救程序
机译:集成电路的时序故障修复装置,集成电路的时序故障诊断装置,集成电路的时序故障诊断方法,集成电路的时序,故障诊断方法,计算机可读记录的正确性,以及记录的数据是否正确中等记录后,用于集成电路的定时故障修复程序
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