声明
致谢
摘要
第一章 绪论
1.1 霍尔效应
1.1.1 量子霍尔效应
1.1.2 量子反常霍尔效应
1.1.3 量子自旋霍尔效应
1.2 三维拓扑绝缘体
1.3 拓扑绝缘体光电方面的研究进展
1.3 本文主要内容
第二章 实验设备和原理
2.1 分子束外延的实验原理
2.1.1 真空泵系统
2.1.2 冷却系统
2.1.3 不间断电源系统
2.1.4 传样系统
2.1.5 外延生长系统
2.1.6 表征监测系统
2.2 使用分子束外延法制备高质量Bi2Se3薄膜
2.2.2 衬底选择及清洗
2.2.3 传送样品
2.2.4 衬底除气
2.2.5 外延生长
2.2.6 传出样品
2.3 肖特基结光电探测器基本原理
2.4 测试与辅助设备
2.4.1 电子束蒸镀设备
2.4.2 4200-SCS型半导体特性分析系统
2.4 本章小结
第三章 高质量Bi2Se3薄膜的参数设计及分析
3.1 实验准备
3.1.1 实验材料及设备
3.1.2 衬底预处理
3.2 实验方案
3.3 实验过程
3.4 不同参数结果分析
3.4.1 不同温度下的测试结果分析
3.4.2 不同流量比的测试结果分析
3.4.3 不同衬底的测试结果分析
3.5 本章小节
第四章 Bi2Se3-Ge肖特基结的光电性能的研究
4.1 硒化铋-锗光电探测器的制作
4.2 电输运性质
4.3 肖特基结的光响应
4.3.1 波长对光电性能的影响
4.3.2 温度对光电性能的影响
4.3.3 功率对光电性能的影响
4.4 肖特基结性能参数分析
4.4.1 响应度
4.4.2 开关比
4.4.3 探测率
4.4.4 响应时间
4.5 本章小结
第五章 总结与展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况