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目录
第一章 绪论
§1.1 课题研究背景及意义
§1.2 测试基本原理
§1.3 ATPG算法发展现状
§1.4 论文的研究内容及章节安排
第二章 数字电路测试生成的基本理论
§2.1 测试生成的相关概念
§2.2 故障模拟
§2.3 主要的测试向量生成算法
§2.4 本章小结
第三章 SWK测试生成算法
§3.1 引言
§3.2 相关定义
§3.3 SWK测试生成算法实现
§3.4 本章小结
第四章 可测试性分析与SWK测试生成算法
§4.1 可测性测度SCOAP
§4.2 SWK测试生成算法及其改进
§4.3 测试生成涉及的有关文件和数据
§4.4 测试生成的总体框架及流程
§4.5 实验结果
§4.6 本章小结
第五章 总结与展望
§5.1 总 结
§5.2 展 望
参考文献
致谢
作者在攻读硕士期间主要研究成果
桂林电子科技大学;