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磁控溅射制备TiAlSiN纳米复合膜和TiN/TiAlSiN多层调制膜及其性能研究

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摘要

1.1引言

1.2氮化物薄膜材料概述

1.2.1二元氮化物薄膜性质及应用

1.2.2多元氮化物薄膜材料

1.3国内外氮化物薄膜材料的研究动态

1.3.1国外氮化物薄膜研究现状

1.3.2国内氮化物薄膜研究现状

1.4氮化物薄膜材料制备方法

1.4.1化学气相沉积(CVD)

1.4.2物理气相沉积(PVD)

1.5研究的目的意义及主要研究内容

第2章实验原理及方法

2.1实验方案与流程

2.2实验原理及设备

2.2.1磁控溅射实验原理

2.2.2实验设备

2.2.3靶材的选取与基体预处理

2.3薄膜晶体结构和微观形貌表征

2.3.1 XRD物相分析

2.3.2透射电子显微镜

2.3.3表面形貌分析

2.4薄膜性能的表征

2.4.1显微硬度分析

2.4.2膜/基结合力分析

第3章TiAlSiN单层膜制备与性能的研究

3.1氮气流量对薄膜的结构和性能影响

3.1.1氮气流量对薄膜XRD的影响

3.1.2氮气流量对薄膜的微观形貌的影响

3.1.3氮气流量对薄膜显微硬度的影响

3.1.4氮气流量对薄膜结合力的影响

3.2沉积时间对薄膜的结构和性能影响

3.2.1沉积时间对薄膜XRD的影响

3.2.2沉积时间对对薄膜微观的影响

3.2.3沉积时间对薄膜显微硬度的影响

3.2.4沉积时间对薄膜结合力的影响

3.3溅射功率对薄膜的结构和性能影响

3.3.1溅射功率对薄膜XRD的影响

3.3.2溅射功率对薄膜微观形貌的影响

3.3.3溅射功率对薄膜显微硬度的影响

3.3.4溅射功率对薄膜结合力的影响

3.4基板温度对薄膜结构及性能影响

3.4.1基板温度对薄膜XRD的影响

3.4.2基板温度对薄膜微观形貌的影响

3.4.3基板温度对薄膜显微硬度的影响

3.4.4基板温度对薄膜结合力的影响

3.5不同的工艺参数EDS成分分析

3.6 TiAlSiN单层膜TEM分析

3.7本章小结

第4章TiAlSiN成分梯度膜和TiN/TiAlSiN多层调制膜制备及性能研究

4.1 TiAlSiN成分梯度膜的制备及性能研究

4.1.1渐变时间对TiAlSiN成分梯度膜XRD的影响

4.1.2渐变时间对TiAlSiN成分梯度膜微观形貌的影响

4.1.3渐变时间对TiAlSiN成分梯度膜显微硬度的影响

4.1.4渐变时间对TiAlSiN成分梯度膜结合力的影响

4.2 TiAlSiN成分梯度膜TEM分析

4.3 TiN-TiAlSiN成分梯度膜的制备及性能研究

4.3.1不同的TiN膜层对TiN-TiAlSiN成分梯度膜XRD的影响

4.3.3不同的TiN膜层对TiN-TiAlSiN成分梯度膜显微硬度的影响

4.3.4不同的TiN膜层对TiN-TiAlSiN成分梯度膜结合力的影响

4.4 TiN/TiAlSiN多层调制膜的制备及性能研究

4.4.1不同调制比对TiN/TiAlSiN多层调制膜的XRD能谱的影响

4.4.2不同调制比对TiN/TiAlSiN多层调制膜的微观形貌的影响

4.4.3不同调制比对TiN/TiAlSiN多层调制膜的显微硬度的影响

4.4.4不同调制比对TiN/TiAlSiN多层调制膜结合力的影响

4.5本章小结

第5章结论

参考文献

致谢

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著录项

  • 作者

    刘雪;

  • 作者单位

    东北大学;

  • 授予单位 东北大学;
  • 学科 材料学
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 崔彤;
  • 年度 2017
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 chi
  • 中图分类 TQ3TP2;
  • 关键词

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