β-Si3N4(0001)表面本征点缺陷及其异质结的模拟研究

目录

声明

第1章 绪论

1.1 Si3N4材料的概述

1.1.1 Si3N4材料的发展历程

1.1.2 Si3N4的结构、性能及应用

1.2 Si3N4中点缺陷的研究现状

1.3 Si3N4表面及界面的研究现状

1.3.1 Si3N4的表面研究

1.3.2 Si3N4的界面研究

1.5 本文的研究目的和研究内容

1.5.1 本文的研究目的

1.5.2 本文的研究内容

第2章 理论计算基础

2.1 引言

2.2.1 Hohenberg-Kohn定理

2.2.2 Kohn-Sham方程

2.2.3 交换关联泛函

2.2.4 自洽计算

2.3 物理量介绍

2.3.1 能带结构

2.3.2态密度

2.3.3 差分电荷密度

2.3.4 光学性质

2.4 Materials Studio软件介绍

2.5 本章小结

第3章 β-Si3N4特性分析

3.1β-Si3N4的物理模型

3.2 计算参数选取

3.3β-Si3N4体相电子结构

3.4β-Si3N4理想表面

3.4.1β-Si3N4（0001）表面层数测试

3.4.2β-Si3N4（0001）表面释放层数测试

3.4.3β-Si3N4（0001）表面态密度分析

3.5 本章小结

第4章 β-Si3N4（0001）表面本征点缺陷体系的电子结构和光学性质

4.1 引言

4.2 计算方法和模型构建

4.2.1 计算方法

4.2.2 模型构建

4.3 空位缺陷体系

4.3.1 晶体结构

4.3.2 电子结构

4.3.3 光学性质

4.4 填隙缺陷体系

4.4.1 晶体结构

4.4.2 电子结构

4.4.3 光学性质

4.5 本章小结

第5章 石墨烯/β-Si3N4（0001）异质结的电子结构和光学性质

5.1 引言

5.2 计算方法和模型构建

5.2.1 计算方法

5.2.2 模型构建

5.3 结果和讨论

5.3.1 石墨烯/β-Si3N4（0001）异质结的稳定性

5.3.2 石墨烯/β-Si3N4（0001）异质结的电子结构

5.3.3 石墨烯/β-Si3N4（0001）异质结的光学性质

5.4 本章小结

结论与展望

参考文献

致谢

附录A 攻读研究生期间发表的学术论文