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【6h】

Z1/2缺陷对SiC探测器性能的影响研究

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第一章 绪论

1.1选题背景和研究意义

1.2研究现状

1.3本文的主要工作

第二章 4H-SiC中子探测器

2.1探测原理

2.2 SiC探测器的性能参数

2.3物理模型及参数

2.4计算方法

2.5本章小结

第三章 计算方法的验证

3.1 4H-SiC SBD探测器结构及基本特性

3.2 5.486 MeVα粒子的能谱响应

3.3 0.026 eV热中子的能谱响应

3.4本章小结

第四章 中子能谱的计算与分析

4.1 4H-SiC PIN二极管探测器结构及基本特性

4.2不同寿命下的中子能谱

4.3不同Z1/2缺陷浓度下的中子能谱

第五章 总结与展望

5.1总结

5.2展望

参考文献

致谢

作者简介

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著录项

  • 作者

    姜倩;

  • 作者单位

    西安电子科技大学;

  • 授予单位 西安电子科技大学;
  • 学科 电子科学与技术
  • 授予学位 硕士
  • 导师姓名 郭辉;
  • 年度 2019
  • 页码
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种 中文
  • 中图分类 TQ3;TQ1;
  • 关键词

    缺陷; SiC; 探测器性能;

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