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致谢
摘要
序言
1 引言
1.1 有机薄膜晶体管的发展及现状
1.2 有机集成电路的发展与现状
1.3 利用OTFT实现有机集成电路的设计的方法
1.3.1 集成电路的电子自动化设计(EDA)方法
1.3.2 有机集成电路的EDA设计流程
1.3.3 EDA电路仿真工具及器件模型的应用
1.3.4 OTFT器件模型发展及概况
1.4 有机集成电路设计中的关键问题及本论文的工作
2 有机薄膜晶体管的工作原理及其模型
2.1 有机薄膜晶体管的主要制备材料
2.1.1 有源层制备材料
2.1.2 绝缘层制备材料
2.1.3 漏源电极制备材料
2.2 有机薄膜晶体管的的基本结构与工作原理
2.2.1 OTFT的基本结构
2.2.2 OTFT的的基本工作原理
2.2.3 常用的OTFT器件电流电压关系
2.2.4 OTFT的主要参数常用提取方法
2.3 有机OTFT的器件特性
2.3.1 有机半导体的传输模型
2.3.2 OTFT器件中的寄生效应
2.3.3 OTFT的寄生器件
2.4 本章小结
3 有机薄膜晶体管SPICE模型及其参数提取方法研究
3.1 有机薄膜晶体管的模型建立方法
3.1.1 模型建立方法及其参数提取方法
3.1.2 有机薄膜晶体管的等效电路模型
3.2 有机薄膜晶体管的直流电流电压模型
3.2.1 有机薄膜晶体管直流SPICE模型的建立
3.2.2 模型中参数的提取方法
3.3 模型及参数提取方法的实验验证
3.3.1 OTFT的实验制备及测试
3.3.2 OTFT的参数提取
3.3.3 OTFT的模拟仿真
3.4 OTFT的动态参数模型
3.4.1 有机薄膜晶体管的寄生电容
3.4.2 有机薄膜晶体管的交流电阻
3.5 本章小结
4 物理参数对OTFT器件的性能影响研究
4.1 OTFT器件的制备
4.1.1 器件材料的选择
4.1.2 器件的制备工艺
4.2 绝缘层厚度对OTFT器件的性能影响研究
4.2.1 基于SiO2绝缘层的OTFT器件的制备与测试
4.2.2 不同绝缘层厚度OTFT的参数提取及性能分析
4.3 沟道几何尺寸对OTFT器件的性能影响研究
4.3.1 基于SiO2绝缘层的OTFT器件的制备与测试
4.3.2 不同沟道几何尺寸OTFT器件的参数提取与性能分析
4.4 绝缘层材料对OTFT器件的性能影响研究
4.4.1 基于SiNx绝缘层的OTFT的制备与测试
4.4.2 基于PMMA绝缘层的OTFT的制备与测试
4,4.3 基于PVP绝缘层OTFT的制备与测试
4.4.4 基于不同绝缘层的OTFT器件性能比较与分析
4.5 本章小结
5 基于OTFT模型的逐次逼近型ADC电路设计
5.1 模数转换器基础
5.1.1 模数转换器基本原理
5.1.2 模数转换器基本参数
5.2 基于P-OTFT的逐次逼近型ADC电路设计与仿真
5.2.1 基于P-OTFT的逻辑门电路设计与分析
5.2.2 基于P-OTFT的逐次逼近ADC的逐次逼近逻辑设计
5.2.3 基于OTFT的采样保持和DAC电路
5.2.4 基于OTFT的比较器电路
5.2.5 基于P-OTFT的时序控制电路设计
5.2.6 基于P-OTFT的逐次逼近ADC的电路整体仿真
5.3 基于P-OTFT的逐次逼近型ADC版图设计
5.4 本章小结
6 结论
参考文献
作者简历及攻读博士学位期间取得的研究成果
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