文摘
英文文摘
论文说明:缩略词表
声明
致谢
1 绪论
1.1 课题背景及意义
1.2 可测试性设计位于数字集成电路流程中的位置
1.3 本论文的主要工作
1.4 论文的组织结构
2 MAC和EPA芯片的扫描测试方案
2.1 芯片介绍
2.1.1 MAC芯片
2.1.2 EPA芯片
2.2 MAC芯片SCAN设计
2.2.1 扫描测试简介及DFT Compiler插入扫描链的流程
2.2.2 TetraMAX自动生成测试矢量的流程
2.2.3 STIL(Standard Test Inteface Language)标准测试接口语言简介
2.2.4 测试矢量验证(Test Pattern Validation)
2.3 EPA芯片Adaptive Scan设计
2.3.1 DFT Compile中的Adaptive Scan自适应扫描技术
2.3.2 Tetramax针对于Adaptive Scan的ATPG流程
2.3.3测试矢量验证(Pattern Validation)
2.4 本章小结
3 MAC和EPA芯片的存储器内建自测试
3.1 单端口和双端口SRAM中的故障
3.2 SRAM的测试算法
3.3 面向字的SRAM背景数据值
3.3.1 MAC芯片MBIST设计中SRAMs背景数据值
3.3.2 EPA芯片MBIST设计中SRAM背景数据值
3.4 March SRD+测试算法
3.5 March s2PF-和March d2PF-算法
3.6 MAC和EPA芯片中存储器所采用的测试算法
3.6.1 MAC芯片中存储器的测试算法
3.6.2 EPA芯片中存储器的测试算法
3.7 本章小结
4 可测试性设计的芯片测试与分析
4.1 MAC扫描功能测试方法及结果
4.1.1测试平台
4.1.2芯片扫描功能测试结果
4.2 EPA自适应扫描(Adaptive Scan)测试方法及结果
4.2.1测试平台
4.2.2芯片扫描功能测试结果
4.3 MAC芯片存储器内建自测试测试方法及结果
4.4 EPA芯片存储器内建自测试测试方法及结果
4.5 本章小结
5 总结及展望
5.1 总结
5.2 展望
参考文献
作者简历及在学期间所取得的科研成果