声明
致谢
摘要
1 绪论
1.1 研究背景
1.1.1 ICF驱动器
1.1.2 光学元件疵病的种类及危害
1.2 国内外研究现状
1.2.1 表面疵病检测技术
1.2.2 内部疵病检测方法
1.3 本论文主要研究内容
2 光散射理论
2.1 概述
2.2 米氏散射理论
2.2.1 单粒子的米氏散射理论
2.2.2 米氏散射理论的数值计算
2.2.3 米氏散射理论的近似
2.3 单个颗粒散射光强分布仿真
2.4 本章小结
3 基于扫描的光学元件内部疵病检测系统设计
3.1 内部疵病检测方案设计
3.2 检测系统硬件设计
3.2.1 光源
3.2.2 CCD相机
3.2.3 位移平台
3.2.4 待测样品
3.3 本章小结
4 基于扫描的光学元件内部疵病检测过程
4.1 检测过程
4.2 子孔径拼接
4.3 疵病坐标处理
4.3.1 二维坐标
4.3.2 z坐标
4.4 本章小结
5 实验数据与结果分析
5.1 实验数据
5.2 与显微镜测量结果对比
5.3 本章小结
6 总结与展望
6.1 工作总结
6.2 展望
参考文献
作者简历及在学期间所取得的科研成果