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SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)微波介质陶瓷及微波介质材料τf的测试误差

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摘要

第一章 绪论

1.1 引言

1.2 微波介质陶瓷

1.2.1 应用背景和发展历史

1.2.2 微波介质响应机制及原理

1.2.3 微波介电陶瓷的性能指标

1.2.4 微波介质陶瓷体系及其发展趋势

1.3 钙钛矿及类钙钛矿微波介质陶瓷

1.3.1 简单钙钛矿陶瓷

1.3.1 复合钙钛矿陶瓷

1.3.2 层状钙钛矿陶瓷

1.4 微波介电性能的评价方法

1.5 课题的提出与研究内容

第二章 复合层状钙钛矿SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)陶瓷的微波介电性能

2.1 前言

2.2 试样制备和测试

2.2.1 试样制备过程

2.2.2 陶瓷样品致密度的测试

2.2.3 相组成和微结构分析

2.2.4 微波介电性能测试

2.3 实验结果与讨论

2.3.1 烧结特性相组成和微结构

2.3.2 结构精修

2.3.3 拉曼光谱分析

2.3.4 微波介电性能

2.4 MLnBO4陶瓷中K2NiF4型层状钙钛矿结构的稳定性

2.4.1 结构稳定性与钙钛矿层许容因子的关系

2.4.2 结构稳定性与M2+、Ln3+、B3+离子半径对比的关系

2.5 结论

第三章 谐振腔法测试微波介电材料的谐振频率温度系数的误差

3.1 前言

3.2 实验过程

3.3 理论计算

3.4 结果与讨论

3.5 结论

第四章 结论

参考文献

致谢

个人简历

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摘要

具有n=1时Ruddlesden-Popper结构的MLnAlO4(M=Ba,Ca,Sr; Ln=La,Nd,Sm,Y)层状钙钛矿由简单钙钛矿层和岩盐层以1∶1比例沿c轴堆垛而成,其陶瓷材料具有优良的微波介电性能,在微波通信器件中有着潜在的应用价值。另一方面,异价离子共同占据ABO3钙钛矿结构氧八面体中心位置的复合钙钛矿A(B1,B2)O3则是电子陶瓷材料的重要成员。本论文使用异价离子R2+(R=Zn,Mg)和Ti4+共同取代SrLaAlO4中的Al3+,系统研究了SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)复合层状钙钛矿陶瓷的制备、相组成、微结构及微波介电性能。通过固相反应法制备了致密的SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)单相陶瓷,属于I4/mmm空间群,结构精修表明在这种复合层状钙钛矿陶瓷中,(R0.5Ti0.5)3+完全占据氧八面体中心位置,对层间极化和许容因子产生重要影响。由于异价离子(R0.5Ti0.5)3+的引入,使得平均离子半径增加,导致钙钛矿层和岩盐层的匹配程度降低;同时结构许容因子减少,结构的稳定性降低,从而产生内应力,使得介电损耗增加。由于介电常数正比于离子的极化率,(R0.5Ti0.5)3+离子极化率明显高于Al3+,介电常数得到显著提升,同时谐振频率的温度系数从负值变为正值。分别在1400℃和1575℃烧结SrLa(Zn0.5Ti0.5)O4和SrLa(Mg0.5Ti0.5)O4时,得到如下最佳优良性能:εr=29.4,Qf=34,000 GHz,τf=+38 ppm/℃;εr=25.5,f=72,000 GHz,τf=+29 ppm/℃。将具有正τf值的SrLa(R0.5Ti0.5)O4(R=Zn,Mg)与具有负τf值的SrLaAlO4形成固溶体,有望得到谐振频率温度系数近零的材料。
  低损耗微波介质材料的关键性能参数包括相对介电常数εr,Qf和谐振频率温度τf。出于测试精度的考虑,通常用平行板法评价εr和τf;用谐振腔法评价Qf。近年来,计算机计算能力的快速提升使得用金属谐振腔法精确评价εr成为可能,并已出现仅用这种方法评价以上三个参数的趋势。实际上,低损耗微波介质材料的τf(τf,s)定义为均匀填充这种材料的理想谐振系统的谐振频率温度系数,而测试时均处理为非理想谐振系统的τf(τf,r)。本文借助有限单元分析,主要讨论了用谐振腔法测试的误差。金属谐振腔法的测试误差主要来源于腔体、支撑物、电能填充因子等因素,测试误差通常为几ppm/℃,且测试误差随着样品介电常数的减小而增加。同时,采用具有低热膨胀系数的腔体材料来减少测试误差的方法并不可靠。而平行板法的测量误差则远小于金属谐振腔法,通常在1ppm/℃以内。因此,若将样品的τf,s视为非理想谐振系统的τf,r,建议使用平行板法测试τf,s,这一点在试样介电常数较低或对测试精度要求较高时尤为重要。如果使用谐振腔法测试τf,s,则必须结合数值计算以提高测试精度。

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