防伪荧光材料光谱特性及其测量系统研究

摘要

使用防伪荧光材料是进行防伪的主要手段之一。研究能直接、快速、准确的测量防伪荧光材料荧光特性，并能正确辨别材料真伪的测量方法和仪器，对防止假冒伪劣和提高材料防伪性能及相应检测技术都具有非常重要的意义。
　　 本文以荧光分析法为理论基础，选取了典型的防伪材料(人民币)，在通用荧光测量仪器上对其激发、发射光谱、荧光强度进行了测量，简单分析了几种不同面值和新旧人民币在荧光特性方面的差别，得出了其最佳激发、发射波长和发射谱半峰宽度不随外界环境改变的结论，并据此提出了测量方法和系统指标参数；在已获得的检测系统指标参数的基础上，对防伪荧光材料光谱测量系统主要组成部分进行设计、研制与调试；搭建了光栅组成的分光光路，设计了基于TCD1208AP的光电探测单元及相应的驱动电路，采用高速模数转换器件ADS803E及缓存IDT7204完成了信号采集与数据存储，综合完成了基于WinCE的嵌入式ARM数据处理及显示软件的编写，讲解了WinCE操作系统下ARM驱动程序和应用程序的歼发；对系统进行了简单的测试，得到了比较好的结果，验证了系统的正确性，并对测量系统的误差进行了分析。