第一章 绪 论
1.1 功率半导体器件的发展概述
1.2 LTT的发展背景及选题意义
1.3 本文主要工作
第二章 光控晶闸管的结构及工作原理
2.1 晶闸管结构及特点
2.2 晶闸管的阻断特性
2.2.1 晶闸管正向阻断特性
2.2.2 晶闸管反向阻断特性
2.2.3 温度对晶闸管阻断特性的影响
2.3 晶闸管的导通特性
2.4 光控晶闸管(LTT)
2.4.1 LTT通流能力
2.4.2 LTT的电流上升率
2.4.3 LTT的触发导通机理
2.4.4 LTT的动态特性
2.5 结终端技术介绍
2.5.1 场限环技术介绍
2.5.2 场板技术介绍
2.5.3 场板加场限环技术介绍
2.6 本章小结
第三章 光触发与高di/dt光控晶闸管设计
3.1 光触发与电触发
3.1.1 仿真数据对比
3.1.2 实验数据对比
3.2 触发光参数研究
3.2.1 光功率密度
3.2.2 光波长
3.3 器件原胞优化设计
3.3.1 衬底材料选择
3.3.2 P-Well区优化设计
3.3.3 N+区优化设计
3.3.4 N-Buffer层优化设计
3.4 参数优化
3.4.1 器件阴极区长度对瞬态特性的影响
3.4.2 器件光栅长度对瞬态特性的影响
3.5 耐dv/dt能力
3.6 本章小结
第四章 结终端及版图封装设计
4.1 终端结构选型
4.2 工艺步骤设计
4.3 结终端设计
4.4 结终端优化
4.5 结终端拉偏仿真
4.5.1 第二层金属场板拉偏仿真
4.5.2 第一层金属场板拉偏仿真
4.5.3 Si-SiO2界面电荷拉偏仿真
4.6 LTT版图设计
4.7 LTT封装型式设计
4.8 本章小结
第五章 结论与展望
5.1 本文工作总结
5.2 下一步工作计划
致谢
参考文献
攻读硕士学位期间取得的成果