声明
摘要
第1章 引言
1.1 TGS技术的研究意义和目的
1.2 TGS技术的国内外研究动态
1.2.1 国外TGS技术研究
1.2.2 国外TGS技术的应用
1.2.3 国内TGS技术的研究
1.3 课题来源和主要内容
第2章 TGS技术基础
2.1 γ能谱分析基础
2.1.1 γ射线的发射
2.1.2 γ射线与物质的相互作用
2.1.3 γ射线的衰减规律
2.1.4 γ能谱
2.1.5 能量刻度
2.2 层析重建
2.3 TGS系统结构和测量方式
2.3.1 TGS系统结构
2.3.2 TGS测量系统的扫描方式
2.4 TGS技术的测量方程
2.4.1 TGS透射方程
2.4.2 TGS发射方程
第3章 探测效率的MC刻度
3.1 探测效率的物理意义
3.2 探测效率刻度方法
3.2.1 实验刻度方法
3.2.2 解析计算法
3.2.3 蒙特卡罗模拟刻度
3.2.4 三种方法的比较
3.3 MCNP简介
3.4 HPGe探测器的MCNP精确建模
3.5 MC效率刻度
3.5.1 效率刻度模型及扫描运动方式
3.5.2 效率矩阵元的独立性分析
3.6 探测效率的MC刻度
3.6.1 计算方法
3.6.2 结构模型及模拟刻度模式
3.6.3 模拟计算结果
3.6.4 实验验证
第4章 TGS透射测量线衰减系数重建
4.1 径迹矩阵的计算
4.1.1 TGS技术径迹计算方法讨论
4.1.2 基于面通量的径迹长度蒙特卡罗模拟计算
4.1.3 计算结果
4.2 线衰减系数的OSEM迭代重建
4.2.1 OSEM迭代算法
4.2.2 重建结果
4.3 实验验证
4.3.1 实验方案
4.3.2 实验结果
第5章 基于OSEM迭代的发射重建研究
5.1 效率函数的MC模拟计算
5.1.1 计算模型
5.1.2 模拟方案
5.2 发射衰减校正模型
5.3 发射重建模拟研究
5.4 TGS发射重建实验研究
5.4.1 实验设计
5.4.2 数据处理和实验结果
结论
致谢
参考文献
攻读学位期间的学术成果
附录