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目录
第一章引言及国内外研究现状
1.1引言
1.2目前国内外研究现状
第二章 晶硅组件衰减分析和实验验证
2.1太阳能组件出现衰减的自身因素
2.2太阳能组件出现衰减的外界因素
2.3太阳能组件衰减实验验证
2.4本章小结
第三章PID现象的实验研究
3.1 PID的概念
3.2 组件漏电流与温度和湿度的关系
3.3 PID现象的实验验证方法简述
3.4实验室PID测试实验计划及描述
3.5 PID试验测试实验数据汇总分析
3.6实验室PID测试结论
3.7 实验室PID扩展测试
3.8导致PID现象的因素汇总
3.9本章小结
第四章PID现象的改善
4.1 PID现象改善方案的设计
4.2改善方案的实验验证
4.3改善实验验证结论
4.4创新的太阳能组件封装方式的探索
4.5系统方面的改善
4.6本章小结
第五章结束语
5.1主要工作与创新点
5.2后续研究工作
参考文献
致谢
攻读硕士学位期间已发表或录用的论文