文摘
英文文摘
第一章绪论
第二章实验仪器与原理
2.1扫描电子显微镜(SEM)
2.1.1二次电子(Secondary Electrons)成像
2.1.2背散射电子(Back scattered Electrons)成像
2.1.3能量色散谱仪(EDX)
2.2 X射线衍射(XRD)
2.3 激光粒度分析仪
2.4 BET比表面吸附
2.5飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)
第三章颗粒与造型粉表征
3.1颗粒表征
3.1.1颗粒度分析
3.1.2颗粒X射线衍射(XRD)分析
3.1.3颗粒表面吸附实验
3.1.4 SEM形貌分析
3.1.5颗粒杂质分析
3.1.6研究不同粒度炸药颗粒的意义
3.2造型粉表征
3.3小结
第四章药柱形貌表征
4.1药柱剖面的扫描电子显微镜观察
4.1.1粗颗粒药柱扫描电子显微镜观察
4.1.2细颗粒药柱扫描电子显微镜观察
4.2图像处理
4.2.1不同颗粒度的药柱
4.2.2不同压力的药柱
4.3小结
第五章粘结剂状况研究
5.1粘结剂概述
5.2粘结剂在药柱中的分布情况研
5.2.1质谱分析
5.2.2能谱分析
5.2.3背散射电子(BSE)分析
5.3小结
第六章总结
参考文献
致谢
论文独创性声明及论文使用授权声明